信号处理电子系统 - QUADRA-CHEK 2000
量仪用的信号处理电子系统,可轻松可靠地进行二维测量 - QUADRA-CHEK 2000 -  DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH

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QUADRA-CHEK 2000评估单元非常适合安装在测量上机器,轮廓投影仪和测量最多三轴的显微镜。 您可以测量二维轮廓特征 快速,简单,精确地使用创新测量工具。 量仪用的信号处理电子系统可获得大量测量数据并提供测量值统计计算功能。 QUADRA-CHEK是轮廓投影仪、测量显微镜、2-D和影像测量机以及三坐标测量机测量2-D轮廓中点位的信号处理电子系统,根据选择的机型,可手动也可自动测量,支持十字线,光学找边或用摄像头拍摄实时图像和自带图像处理功能。对于3-D轮廓,例如平面,圆柱形,圆锥形和球形,测头探测后保存测量点。 选装的CNC版还能进行全功能轴定位控制和自动执行测量程序。 由于其工业设计,QUADRA-CHEK 2000是应用的理想选择 无论是在测量室还是在苛刻的地方生产环境。 它的扁铝带集成电源组的外壳和无风扇被动冷却非常坚固并且容忍负面影响。该 直观的触摸屏特别制作硬化玻璃支持多点触控手势控制,可以操作手套

测量 - 设备和仪器
Dr.-Johannes-Heidenhain-Str. 5, 83301 Traunreut
德国
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